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電工電子產品環(huán)境試驗
隨著現(xiàn)代電子行業(yè)的發(fā)展，電工電子產品的制作過程與制作精細程度要求也越來越高，需要經過一系列環(huán)境試驗進行驗證其存在的問題。環(huán)境試驗是將產品或材料暴露到自然或人工環(huán)境中按規(guī)定條件進行試驗，從而對它們在實際上可能遇到的貯存、運輸和使用條件下的性能做出評價。
高溫試驗、低溫試驗與恒定濕熱試驗是其中較為常見的環(huán)境試驗，主要通過模擬自然環(huán)境下的高溫、低溫和濕度的變化，來測試其產品的耐熱、耐寒和耐濕的能力怎么樣。其服務領域十分廣泛，如常見的航飛電子產品、汽車電子產品等。
一、檢測內容
1） 低溫試驗：
試驗內容：本低溫試驗的目的僅限于用來確定元件、設備或其他產品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。
2） 高溫試驗：
試驗內容：本高溫試驗的目的僅限于用來確定元件、設備或其他產品在高溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。
3） 恒定濕熱試驗：
試驗內容：本實驗的目的是用于確定規(guī)定時間內恒定溫度、無凝露的高濕環(huán)境對試驗樣品的影響。
二、檢測依據(jù)
1） 低溫試驗：
試驗依據(jù)：GB/T 2423.1—2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫》。
2） 高溫試驗：
試驗依據(jù)：GB/T 2423.2—2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫》。
3） 恒定濕熱試驗：
試驗依據(jù)：GB/T 2423.3—2016《環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗》。
三、檢測流程
1） 業(yè)務咨詢
2） 簽署合同
3） 樣品提交
4） 樣品測試
5） 出具報告（CNAS認可）
