安全檢測(cè)
安全檢測(cè)>電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
隨著現(xiàn)代電子行業(yè)的發(fā)展，電工電子產(chǎn)品的制作過程與制作精細(xì)程度要求也越來越高，需要經(jīng)過一系列環(huán)境試驗(yàn)進(jìn)行驗(yàn)證其存在的問題。環(huán)境試驗(yàn)是將產(chǎn)品或材料暴露到自然或人工環(huán)境中按規(guī)定條件進(jìn)行試驗(yàn)，從而對(duì)它們?cè)趯?shí)際上可能遇到的貯存、運(yùn)輸和使用條件下的性能做出評(píng)價(jià)。
高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)與恒定濕熱試驗(yàn)是其中較為常見的環(huán)境試驗(yàn)，主要通過模擬自然環(huán)境下的高溫、低溫和濕度的變化，來測(cè)試其產(chǎn)品的耐熱、耐寒和耐濕的能力怎么樣。其服務(wù)領(lǐng)域十分廣泛，如常見的航飛電子產(chǎn)品、汽車電子產(chǎn)品等。
一、檢測(cè)內(nèi)容
1） 低溫試驗(yàn)：
試驗(yàn)內(nèi)容：本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。
2） 高溫試驗(yàn)：
試驗(yàn)內(nèi)容：本高溫試驗(yàn)的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。
3） 恒定濕熱試驗(yàn)：
試驗(yàn)內(nèi)容：本實(shí)驗(yàn)的目的是用于確定規(guī)定時(shí)間內(nèi)恒定溫度、無凝露的高濕環(huán)境對(duì)試驗(yàn)樣品的影響。
二、檢測(cè)依據(jù)
1） 低溫試驗(yàn)：
試驗(yàn)依據(jù)：GB/T 2423.1—2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫》。
2） 高溫試驗(yàn)：
試驗(yàn)依據(jù)：GB/T 2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》。
3） 恒定濕熱試驗(yàn)：
試驗(yàn)依據(jù)：GB/T 2423.3—2016《環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)》。
三、檢測(cè)流程
1） 業(yè)務(wù)咨詢
2） 簽署合同
3） 樣品提交
4） 樣品測(cè)試
5） 出具報(bào)告（CNAS認(rèn)可）
